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  • Aufbau des Laborröntgenreflektometers LaReX, © Frank Wagner – IAP e. V.

    Projekt

    Labor-Reflektometer für den soft X-Ray Bereich (LaReX)

    Zur Charakterisierung von optischen Elementen im weichen Röntgenbereich, wie beispielsweise Spiegel (sphärisch, toroidal, u.a.), Multilayer-Spiegel, 1D und 2D Gitter, Reflexionszonenplatten, Mandreloptiken wurde ein kompaktes Labormessgerät entwickelt.

    Forschungseinrichtung: Institut für angewandte Photonik e. V. – IAP
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  • Demonstrator zur faseroptischen Messung des Mittenverlaufs an einer Tiefbohreinheit , © ITW e.V. Chemnitz

    Projekt

    High-Speed-Messgerät zur Mittenverlaufsüberwachung von Schaftwerkzeugen beim spanenden Tiefbohren

    Der Mittenverlauf ist an erzeugten Tiefbohrungen eine unerwünschte Erscheinung. Dieser ist qualitätsentscheidend, aber schwierig zu messen. Es wurde eine Sensorlösung für schlanke Bohrer entwickelt, um kleinste Achsfehler beim Tiefenzerspanen schnell zu erfassen.

    Forschungseinrichtung: ITW e. V. Chemnitz, Institut für innovative Technologien
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  • Links: Emissionsverteilung der 1220 Nanometer LEDs auf Metallkernleiterplatte mit IOH, rechts: Emissionsverteilung der 1220 Nanometer LEDs nur mit Metallrahmenkontakt, © OUT e.V.

    Projekt

    Transparente ohmsche Kontakte für Sicherheits-NIR-LED

    Es galt, eine transparente Kontaktierung für NIR-LEDs zu entwickeln, um die Lichtleistung um zirka 30 bis 50 Prozent zu erhöhen. Dies wurde durch die Entwicklung eines Beschichtungsverfahrens zum Erzeugen verschiedenartiger Kontakte auf (p-) Halbleitern erreicht.

    Forschungseinrichtung: Optotransmitter-Umweltschutz-Technologie e. V. – OUT
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  • Breitband-UVED, © Optotransmitter-Umweltschutz-Technologie e. V. (OUT)

    Projekt

    Breitband-UVED

    Im Rahmen eines geplanten Forschungsprojektes sollen konvertierte UVEDs erforscht und entwickelt werden, um eine zehn bis hundertfach höhere spektrale Bestrahlungsstärke als Deuterium-Strahler zu erreichen.

    Forschungseinrichtung: Optotransmitter-Umweltschutz-Technologie e. V. – OUT
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  • Einfachste Vermessung auch komplizierter Formen und Anzeige des Ergebnisses auf einem Mobiltelefon

    Projekt

    Maß- und Formbestimmung von flächigen Objekten

    Durch dieses neue Messsystem können die Abmessungen und die Formhaltigkeit flächiger Objekte hochpräzise bestimmt werden. Die zugrundeliegende Idee ist die Positionsmessung signifikanter Begrenzungspunkte des Messobjektes, das in Bezug zu dem Koordinatensystem gebracht wird.

    Forschungseinrichtung: Sächsisches Institut für die Druckindustrie GmbH – SID
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  • Konfokales CMOS-Messsystem für transparente Schichten

    Projekt

    Effizientes in-process konfokales CMOS-Messsystem (CMOSTRA)

    Im Projekt wurde ein konfokales CMOS-Messsystem mit paralleler Messdatenverarbeitung auf FPGA-Hardwar für glänzende, mikrostrukturierte Oberflächen, transparente Schichten und transparente Mikrobauteile entwickelt.

    Forschungseinrichtung: ITW e. V. Chemnitz, Institut für innovative Technologien
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  • LED-Meter, Spektrale Charakterisierung – OUT e.V.

    Projekt

    LED-Meter

    Mit dem LED-Meter können die charakteristischen Kennwerte von LEDs schneller und ohne den Einsatz von teuren Spektrometern sowohl absolut als auch spektral vermessen werden. Aufgrund der Messmethode und deren große Robustheit ist eine Rekalibrierung durch den Anwender nicht mehr erforderlich.

    Forschungseinrichtung: Optotransmitter-Umweltschutz-Technologie e. V. – OUT
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  • Kristalldetektion im neu entwickelten System. Von links oben nach rechts unten: Originalbild, Vorverarbeitung, Kantendetektion und Segmentierung , © IAB – Institut für Angewandte Bauforschung Weimar gemeinnützige GmbH

    Projekt

    Alpha-Gips-Online

    Ziel des Projekts war die Entwicklung eines Online Überwachungssystems für die Gipsproduktion im Autoklaven, welches die Entwicklungsphasen der Gipskristalle zu erfassen und diese zeitnah auszuwerten sollte. Die gesamte Prozesssicherheit wurde so maßgeblich erhöht.

    Forschungseinrichtung: IAB – Institut für Angewandte Bauforschung Weimar gemeinnützige GmbH
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  • Vergleich einschichtig und mehrschichtig belegter Schleifwerkzeuge

    Projekt

    Oberflächencharakterisierung mehrschichtiger Schleifwerkzeuge

    Durch ein neuartiges Verfahren ist die anspruchsvolle 3-D-Bildaufnahme und nachgelagerte messtechnische Charakterisierung von Oberflächen an metall-, kunstharz- und keramikgebundenen mehrschichtigen Schleifwerkzeugen mit hoher Genauigkeit möglich.

    Forschungseinrichtung: Gesellschaft für Fertigungstechnik und Entwicklung Schmalkalden e. V. – GFE
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  • Das neuentwickelte Messelement zur Bestimmung des Druckbildes zu einer Bezugskante

    Projekt

    Sondermesselement für die Positionsbestimmung des Druckbildes

    Durch die Neuentwicklung der Messelemente konnte die Anwendung des Passermesssystems LUCHS-auf weitere Druckverfahren ausgeweitet werden. Damit sind auch dort Messgenauigkeiten von bis zu 10 µm möglich.

    Forschungseinrichtung: Sächsisches Institut für die Druckindustrie GmbH – SID
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