'

Navigation

Suchergebnisse

  • Schematische Darstellung für das entwickelte SmartFLU-Modul - © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik

    Projekt

    Smartes, hoch miniaturisiertes Fluorimeter (SmartFLU)

    Für Fluorimeter wurden smarte, hoch miniaturisierte und hochauflösende Elektronik- und Optikkomponenten entwickelt. Basis bilden Fotodioden mit speziellen Antireflexschichten, neuartige dichroitische Strahlteiler, Bandpässe mit hoher Winkelakzeptanz und spezielle optisch-richtungsselektive Filter.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
    Öffnet Einzelsicht
  • LED-Meter, Spektrale Charakterisierung – OUT e.V.

    Projekt

    LED-Meter

    Mit dem LED-Meter können die charakteristischen Kennwerte von LEDs schneller und ohne den Einsatz von teuren Spektrometern sowohl absolut als auch spektral vermessen werden. Aufgrund der Messmethode und deren große Robustheit ist eine Rekalibrierung durch den Anwender nicht mehr erforderlich.

    Forschungseinrichtung: Optotransmitter-Umweltschutz-Technologie e. V. – OUT
    Öffnet Einzelsicht
  • Messungen an durchströmten Teflonschlauch - © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH

    Projekt

    Mikro-Laser-Doppler Sensor (MiLD)

    Ziel war die Entwicklung eines miniaturisierten Sensors für die Geschwindigkeitsmessung mit dem Laser-Doppler-Verfahren. Die bidirektionale Baugruppe enthält die benötigte(n) Laserquelle(n), Photoempfänger und Signalaufbereitung.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
    Öffnet Einzelsicht
  • Innenleben und Gehäuse des Sensor-Demonstrators (zirka sechs Zentimeter hoch) - © CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH

    Projekt

    KomBreSSe - Kompakter Brechungsindex- und Schichtdicken-Sensor

    Mit dem kompakten optischen Sensor können dünne Oberflächenbeschichtungen kontaktlos charakterisiert werden. Das Funktionsprinzip basiert auf der polarisationsabhängigen Reflexionsmessung unter schrägem Lichteinfall von mindestens zwei Lichtwellenlängen.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
    Öffnet Einzelsicht
  • Aufbau Speckletrecking ; Balazs Horvath

    Projekt

    Optischer Topographiekorrelator

    Im Projekt wurden Messstrategien entwickelt, um schnelle Deflexions- und Specklekorrelationsmessungen durchzuführen. Dabei verdient das Speckle-Trecking-Verfahren besondere Aufmerksamkeit, da hiermit die Entwicklung handgeführter Streulicht-Sensoren zur Beurteilung großer Bauteile möglich wird.

    Forschungseinrichtung: INNOVENT e. V. Technologieentwicklung
    Öffnet Einzelsicht
  • Spektralsensorbaugruppe aus den Komponenten: 3D-strukt. Si-Fotodioden, Optischer Filter, Flip-montierte Verstärkerchips, SMD-Bauelemente und (optional) 3D-srukturierter Si-Faserführungschip, aufgebaut auf flexibl. Leiterplatte - © CiS Forschungsinstitut

    Projekt

    Polarisations-kompensierte 3D-Spektralsensoren (3DSpekSens)

    Die Entwicklungsumgebung für innovative siliziumbasierte faseroptische Spektralsensorsysteme umfasst unter anderem Designregeln für 3D-strukturierte Photodioden, laterale Strukturierung von Spektralfiltern bis zum Gehäuse, um durch Polarisation der Strahlungsquelle bedingte Messfehler zu beseitigen.

    Forschungseinrichtung: CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH
    Öffnet Einzelsicht
  • Laterale Stromdichteverteilung in der Ebene des p-n-übergangs mit und ohne ITO bei verschiedenen Kontaktwiderständen

    Projekt

    Transparente ohmsche Kontakte für Halbleiter

    Das Vorhaben betrifft eine Technologie zur frontseitigen Kontaktierung optoelektronischer Bauelemente für den optischen Datentransfer im NIR (980 bis 1600 Nanometer). Ziel war die Erhöhung der Lichtleistung von NIR-LEDs um 50 Prozent gegenüber dem Stand der Technik.

    Forschungseinrichtung: Optotransmitter-Umweltschutz-Technologie e. V. – OUT
    Öffnet Einzelsicht
  • a) Kombination von Xe-Blitzlampen (oben) mit einer schnellen Infrot-Strahlungsheizung (unten) in der Kurzzeittemperanalge. b) Zeitlicher Temperaturverlauf im Kurzzeittemperprozess.

    Projekt

    Ultraflache Dotierungszonen

    Gegenstand des Projektes war die Entwicklung einer Technologie zur Herstellung von flachen Dotierungsprofilen (< 50 Nanometer) in Verbindungshalbleitern mittels einer innovativen Kurzzeittemperanlage (Flash Lamp Anealing).

    Forschungseinrichtung: Optotransmitter-Umweltschutz-Technologie e. V. – OUT
    Öffnet Einzelsicht
  • IR-Bolometersensorchip mit plasmonischer Absorptionsschicht

    Projekt

    IBOS – IR-Bolometersensor

    Ziel des Projektes war die Entwicklung eines IR-Bolometersensors als Mikrochip mit deutlich höherer Wärmebeständigkeiten gegenüber vergleichbaren Bauelementen. Es konnte der Demonstrator eines leistungsfähigen IR-Detektors zur Verfügung gesetellt werden, welcher kostengünstig anzufertigen ist.

    Forschungseinrichtung: Günter-Köhler-Institut für Fügetechnik und Werkstoffprüfung GmbH – ifw Jena
    Öffnet Einzelsicht
  • Optoelektronischer Feuchteindikator zur kontinuierlichen Zustandsüberwachung von Kälteanlagen

    Projekt

    Optoelektronischer Feuchteindikator für Kälteanlagen

    Gegenstand des Projekts war die Entwicklung eines optoelektronischen Sensors zur Feuchte- und Blasenindikation in Kälteanlagen für die kontinuierliche Überwachung und frühzeitigen Diagnose von Anlagenstörungen.

    Forschungseinrichtung: Institut für Luft- und Kältetechnik gGmbH – ILK Dresden
    Öffnet Einzelsicht