Projekt
Entwicklung eines Messverfahrens zur Bestimmung von Schichtdicken im nm-Bereich mittels elektrischer Frequenzbereiche und deren Einfluss auf den Wechsel-stromwiderstand - EISEW
Auf Grundlage der Impedanzspektroskopie wurde ein Messverfahren entwickelt, um elektrisch leitende und elektrisch isolierende Beschichtungen kleiner 300nm zu analysieren und zu messen. Diese Schichten können hinsichtlich gestörtem Gefügeaufbau infolge Poren, Verschleiß u. ä. charakterisiert werden.
Forschungseinrichtung:
ITW e. V. Chemnitz, Institut für innovative Technologien
Öffnet Einzelsicht